检测项目
1.纯度测定：≥99.9%（GC-FID法）
2.水分含量：≤50ppm（卡尔费休库仑法）
3.金属杂质：Fe≤0.5ppm,Al≤1.0ppm（ICP-MS法）
4.氯离子含量：≤20ppm（离子色谱法）
5.密度测定：0.880.02g/cm（25℃振动管法）
检测范围
1.半导体级硅晶圆表面处理剂
2.有机硅聚合物合成原料
3.纳米涂层前驱体溶液
4.医药中间体合成催化剂
5.光学玻璃防雾镀膜材料
检测方法
1.ASTMD7796-17《气相色谱法测定有机硅化合物纯度》
2.ISO12937:2000《石油产品-水含量的测定-卡尔费休库仑法》
3.GB/T33324-2016《电子工业用气体中金属杂质的测定》
4.GB/T31197-2014《无机化工产品中氯离子含量的测定》
5.ISO12185:1996《原油和石油产品-密度测定-振动管法》
检测设备
1.Agilent7890B气相色谱仪（配备FID检测器）
2.Metrohm899Coulometer库仑法水分仪
3.PerkinElmerNexION350D电感耦合等离子体质谱仪
4.ThermoScientificICS-6000离子色谱系统
5.AntonPaarDMA4500M密度计
6.MettlerToledoXPR205DR微量天平（精度0.01mg）
7.ShimadzuUV-2600i紫外可见分光光度计
8.BrukerTENSORII傅里叶变换红外光谱仪
9.MalvernZetasizerNanoZSP粒径分析仪
10.Metrohm905Titrando自动电位滴定仪
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
